使用DS12887的用电参数智能测试仪  

The Application of DS12887 Clock Core Chip in the Power Parameter Meesuring Instrument

作　　者：王玉彬[1] 林春英[1] 

机构地区：[1]山东电力高等专科学校电力系,济南250002

出　　处：《山东电力高等专科学校学报》1998年第1期72-73,共2页Journal of Shandong Electric Power College

摘　　要：介绍一种新型日历时钟芯片DS12887的性能特点及其在用电参数测试仪中的应用,并对提高该仪器的可靠性进行了较详细的讨论。The properties and characterstics of a new tgpe Dsl2887clock core chip are introduced. The application of the Dsl2887 clock core chip is described in this power parameter measuring instrument. Mean while we discuss how to improve the reliability of this instrument.

关 键 词：芯片 参数 可靠性 

分 类 号：TP216[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]