扫描探针技术的进展  

作　　者：姜斌[1] 恽正中[1] 

机构地区：[1]电子科技大学信息材料工程学院

出　　处：《仪器仪表学报》1996年第S1期83-83,共1页Chinese Journal of Scientific Instrument

摘　　要：扫描探针技术的进展姜斌，恽正中（电子科技大学信息材料工程学院）扫描探针技术（ＳｃａｎｎｉｎｇＰｒｏｂｅＴｅｃｈｎｉｑｕｅ，ＳＰＴ）由扫描探针显微镜（ＳＰＭ）和扫描探针谱（ＳＰＳ）组成。这种技术既能观察表面电子和原子结构及其动力学过程，又能对原子、分子...

关 键 词：扫描探针技术 扫描隧道显微镜 扫描探针显微镜 表面形貌 原子力显微镜 超导量子干涉器件 弹道电子发射显微镜 纳米尺度 电子科技大学 原子尺度 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学]