软磁盘生产中漏码、冒码检测问题讨论  

作　　者：周希瑾 

机构地区：[1]电子工业部三十三所

出　　处：《信息记录材料》1994年第3期16-18,40,共4页Information Recording Materials

摘　　要：软件应用的发展，目前市场上需要高品位软磁盘产品的比例加大，从而给软磁盘的质量鉴定增加了难度，产品合格率随之下降。文章扼要介绍了在软磁盘生产过程中介质表面质量指标的含义及其影响因素，指出在用户需要高品位产品的今天。

关 键 词：漏码 介质表面 磁道宽度 产品合格率 产品质量 影响因素 记录介质 软件应用 测试设备 生产过程 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]