用S_(8p)仪测录像带和带基表面三维粗糙度  

作　　者：霍琼宗 王颖[1] 

机构地区：[1]杭州磁带厂

出　　处：《信息记录材料》1991年第3期31-33,共3页Information Recording Materials

摘　　要：一、前言录像带的表面粗糙度对录像带电磁性能的影响是很大的。带基的表面粗糙度,也是录像带性能的决定因素之一。因此,测试录像带及其带基的表面粗糙度是很有意义的。测试录像带及其带基表面粗糙度常用的方法是触针法,常用的仪器是电子轮廓仪,

关 键 词：粗糙度 带基 基表面 轮廓仪 电磁性能 轮廓图 轮廓曲线 磁记录材料 轮廓线 评价范围 

分 类 号：TQ58[化学工程—精细化工]