质子诱发u和Th原子L亚壳层电离  

作　　者：马树勋[1] 杨坤山[1] 刘兆远[1] 张华林 

机构地区：[1]兰州大学现代物理系

出　　处：《原子与分子物理学报》1990年第S1期192-192,共1页Journal of Atomic and Molecular Physics

基　　金：国家自然科学基金 编号 1880717

摘　　要：离子—原子碰撞引起的L-亚壳层电离截面数据,将对离子—原子碰撞理论模型给出更精确的验证,本文利用0.8-3.4Mev质子轰击和Th靶,测得L-亚壳层的X-射线产生截面,借助亚壳层荧光产额和Coster-Kronig跃迁率,得到各L亚壳层的电离截面和L-壳总是离截面,实验结果与ECPSSH理论预言值作了比较。 实验测量中,质子束由兰州大学2×1.7Mv串列静电加速器提供,束流经开关磁铁偏转20度角后,由两个相距1.5M的精密光栏准直。

关 键 词：壳层 TH 串列静电加速器 开关磁铁 原子碰撞 质子束 荧光产额 理论预言 理论模型 准直 

分 类 号：O4[理学—物理]