压电陶瓷元件在电—2头部引信中性能老化问题的探讨  

作　　者：章冬厚 

出　　处：《探测与控制学报》1990年第1期39-42,共4页Journal of Detection & Control

摘　　要：本文介绍了关于PZT—S_3型压电陶瓷元件装入电—2头部引信后的压电模量d_(33)和电容量C的老化情况。从7年的试验数据说明,在储存初期(一年半内)d_(33)和C与时间的对数基本上呈线性关系下降。在中期(一年半至四年)d_(33)和C的回升现象,且有升有降,波动明显呈非线性。在后期(4年至七年)又基本上呈线性关系下降,但下降很缓慢。证明了PZT—S_3型压电陶瓷装入电—2头部引信后,确实存在一个老化问题。

关 键 词：引信机构 压电模量 老化情况 剩余极化强度 线性关系 试验数据 老化问题 压电常数 电容量 压电引信 

分 类 号：TJ43-55[兵器科学与技术—火炮、自动武器与弹药工程]