机械扫描声学显微技术的发展、应用与展望  

作　　者：王应龙[1] 胡东云[2] 

机构地区：[1]北京清华大学 [2]北京理工大学

出　　处：《应用声学》1990年第1期42-45,34,共5页Journal of Applied Acoustics

摘　　要：本文描述了机械扫描声学显微镜的原理,回顾了它的发展,评述了它在各领域中的应用。

关 键 词：机械扫描 声学 显微技术 显微镜 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]