原子力显微镜在纳米材料研究中的应用  

APPLICATION OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE IN NANO-MATERIAL RESEARCH

作　　者：贺祯[1] 侯艳超[1] 周璇[2] 殷海荣[1] 

机构地区：[1]陕西科技大学材料科学与工程学院,陕西西安710021 [2]西北工业大学凝固技术国家重点实验室,陕西西安710072

出　　处：《陕西科技大学学报（自然科学版）》2011年第6期25-28,共4页Journal of Shaanxi University of Science & Technology

基　　金：陕西省科技厅科学技术研究发展计划项目(项目编号:2010JM6019)

摘　　要：主要综述了原子力显微镜的工作原理和基本操作模式,通过实例介绍了原子力显微镜在薄膜、粉体、晶体生长中的应用,指出原子力显微镜在纳米材料的研究和开发过程中有着广阔的应用前景.The article summarizes the basic principles and the operating patterns of the atomic force microscope,the application of AFM in the thin films,power and the growth in crystal was presented through some examples.In this paper,we pointed out that the atomic force microscope has broad application prospects in the research and the development of the nano-materials.

关 键 词：原子力显微镜 纳米材料 应用 

分 类 号：TN16[电子电信—物理电子学] TB383[一般工业技术—材料科学与工程]