二次离子质谱进展  

Development of Secondary Ion Mass Spectrometry

作　　者：祝兆文[1] 侯杰[1] 郑涛[1] 马宏骥[1] 聂锐[1] 丁富荣[1] 

机构地区：[1]北京大学物理学院核科学与核技术国家重点实验室,北京100871

出　　处：《中南民族大学学报（自然科学版）》2011年第3期67-70,共4页Journal of South-Central University for Nationalities：Natural Science Edition

基　　金：国家自然科学基金资助项目(10975010);国家基础科学人才培养基金资助项目(J0730316)

摘　　要：指出了二次离子质谱技术在材料表面分析方面有着广泛的应用,随着探测方法的改进,此技术也得到了迅速发展.在北京大学2×1.7MV串列静电加速器实验室,利用加速器飞行时间二次离子质谱装置对碳基材料进行了分析,通过实验观察到碳纳米管材料对氢具有很强的吸附能力,证实了理论上对此材料储氢能力的预言.Secondary ion mass spectrometry technique has been widely used in the material surface analysis.With the renovation of the detection method,this technique is developing rapidly.In the lab of 2×1.7MV tandem accelerator in Peking University,a facility of accelerator-based time-of-flight secondary ion mass spectrometry was built and upgraded.After analyzing the carbon-based material such as carbon nano tube and graphite,we found that carbon nano tube material could absorb hydrogen strongly.This result proved the capability of carbon nano tube material in hydrogen storage.

关 键 词：加速器 飞行时间 二次离子质谱 材料表面分析 碳基材料 

分 类 号：TL817.8[核科学技术—核技术及应用] O571.33[理学—粒子物理与原子核物理]