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机构地区:[1]西南科技大学材料科学与工程学院,四川绵阳621000
出 处:《四川师范大学学报(自然科学版)》2012年第1期105-108,共4页Journal of Sichuan Normal University(Natural Science)
基 金:国家自然科学基金(10704061)资助项目
摘 要:以Cr层为底层和保护层,采用直流共溅射的方法在Si基片上制备了Cr(80 nm)/SmCo5(300nm)/Cr(8 nm)薄膜,并对样品进行550℃保温30 min的退火,然后分别利用EDX射线能谱仪、X射线衍射仪、原子力显微镜、振动样品磁强计分析研究了退火前后SmCo5薄膜样品的成分、结构、表面形貌、磁学性能及其变化规律.结果表明:在10-4Pa真空环境下,SmCo5薄膜在550℃退火,保温30 min后具有较好的硬磁性能,矫顽力Hc为1 738 Oe.With the Cr layer as an underlayer and a caplayer,SmCo5 thin films were prepared on the silicon in DC co-sputtering,which had been annealed at different temperatures.Then the samples' structures,compositions,and magnetic properties were characterized.The results show that after being annealed at 550 ℃ for 30 min the samples had preferable hard magnetic properties and the coercively about 1 738 Oe.
分 类 号:TM273[一般工业技术—材料科学与工程] TB43[电气工程—电工理论与新技术]
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