检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京101601
出 处:《电子工业专用设备》2012年第2期48-49,53,共3页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:分析了利用万能工具显微镜测量工件时为了提高测量精度采用的原则,并做了一定的原理性分析。In this article the principles using universal tool maker's microscope to improve measurement accuracy are analyzed,and some theories of the measurement principles are anylyzed.
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