定向X光机单次多张透照工艺的制定  

作　　者：王大治[1] 原进秋[1] 

机构地区：[1]天华化工机械及自动化研究设计院,甘肃兰州730060

出　　处：《无损探伤》2012年第1期45-47,共3页Nondestructive Testing Technology

摘　　要：详述了定向X光机单次多张透照的工艺计算,指出了单次多张透照工艺参数的选取办法及注意事项,为定向X光机单次多张透照工艺的制定提供了依据。

关 键 词：单次多张透照 纵向偏移 横向偏移 检测宽度 

分 类 号：TG115.28[金属学及工艺—物理冶金]