星用微处理器在轨单粒子翻转率预估方法研究  

An SEU rate prediction method for microprocessors of space applications

作　　者：高洁[1,2] 李强[3] 

机构地区：[1]上海交通大学电子与通信工程学院,上海200240 [2]上海航天技术研究院第八○四研究所,上海201109 [3]上海航天技术研究院第五○九研究所,上海200240

出　　处：《核技术》2012年第3期201-205,共5页Nuclear Techniques

摘　　要：运用程序占空比概念及故障注入技术对星用微处理器动态和静态单粒子翻转率间的关系进行了研究,并将预估结果与国外在轨飞行监测数据进行了对比。结果表明,由程序占空比计算所得动态单粒子翻转率可对星用微处理器在轨单粒子翻转率进行合理预估;故障注入技术是灵活、方便的动态单粒子翻转率预估方法。In this article, the relationship between static SEU （Single Event Upset） rate and dynamic SEU rate in microprocessors for satellites is studied by using process duty cycle concept and fault injection technique. The results are compared to in-orbit flight monitoring data. The results show that dynamic SEU rate by using process duty cycle can estimate in-orbit SEU rate of microprocessor reasonable; and the fault injection technique is a workable method to estimate SEU rate.

关 键 词：星用微处理器 单粒子翻转率 程序占空比 故障注入 

分 类 号：V416[航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程] V443