检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王德煌[1]
机构地区:[1]北京大学物理系
出 处:《中国激光》1990年第2期115-117,共3页Chinese Journal of Lasers
摘 要:半导体激光器的受激发射光谱和输出光功率(P)-电流(I)特性曲线都是表征其性能的重要数据。它们也是确定半导体激光器受激发射阈值电流(I_(th))的常规测量方法。但是发射光谱是给定工作电流(I)时测量的,必须尽可能多次测量不同I值时的发射光谱,同时仔细区别超辐射和受激发射光谱才能确定I_(th)值;Reported here are the measurement of output light intensity-current carve and the experimental results of threshold current determined from this curve.
分 类 号:TN248.4[电子电信—物理电子学]
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