关于单片机测控系统中抗干扰措施的研究  

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作  者:陈翔[1] 赖万昌[1] 毛万冲[1] 

机构地区:[1]成都理工大学,四川成都610059

出  处:《机电信息》2012年第6期75-76,共2页

摘  要:从单片机测控系统干扰因素入手,分析、研究了具体的抗干扰措施,对相关工作人员有一定的借鉴作用。

关 键 词:单片机 测控系统 抗干扰 

分 类 号:TP273.5[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

 

参考文献:

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