国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述  

Reliability Research on Foreign Infrared Focal Plane Assembly

作　　者：张莹[1] 刘塑[1] 

机构地区：[1]昆明物理研究所,云南昆明650223

出　　处：《红外技术》2012年第3期134-139,共6页Infrared Technology

基　　金：国防科技工业质量与可靠性专业技术基础科研计划项目

摘　　要：介绍了国外焦平面探测器组件可靠性研究的主要特点和内容。焦平面探测器组件的主要制造商,建立了较完善的可靠性保证体系,可靠性研究融入设计与制造全过程,是基于过程的可靠性研究。在研制阶段进行失效模式的充分暴露与加速试验研究;批生产阶段进行工艺优化,并降低系统成本;建立数据库,进行可靠性评估方法研究。This paper describes some reliability assurance practices for Infrared Focal Plane Array Detector Dewar Cooler Assembly （IDDCA） in foreign countries. Many IDDCA manufacturers have their own reliability assurance systems to obtain high reliability in the developing and manufacturing process. Their research includes exposing failure modes and accelerating tests in development phase, optimizing processes and life cycle cost during the manufacturing, and evaluating reliability of IDDCA relying on database.

关 键 词：焦平面探测器组件 可靠性 加速试验 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学]