嵌入式软件开发过程中基于功能点的缺陷度量  

Defect Measurement Based on the Function Point in Embedded Software Development Process

作　　者：李冰[1] 杨贯中[1] 

机构地区：[1]湖南大学软件学院,湖南长沙410082

出　　处：《微计算机信息》2012年第3期44-45,18,共3页Control & Automation

摘　　要：运用软件度量的方法改进传统的嵌入式软件开发过程中的缺陷管理过程,论述了在缺陷管理过程中如何度量嵌入式软件的功能点,并且基于功能点来对缺陷数据进行度量,以度量结果作为指示器来分析项目的进展情况和开发人员的工作质量,为项目管理者的决策提供帮助,最终对传统的嵌入式软件缺陷管理模式进行改进。Improve the bug management process of traditional embedded software development process with the application of software measurement methods, describe how to measure the function point of embedded software and thus measure the defect data based on the function point, analyses project development process and developer＇s work efficiency by the indicator of measurement results, provide useful information for the decision-makers, improve traditional embedded software defect management module finally.

关 键 词：嵌入式软件开发过程 功能点度量 缺陷度量 缺陷管理 

分 类 号：TP311.52[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]