时钟恢复(2)——高速串行设计测试和测量中的关键点  

机构地区：[1]泰克科技(中国)有限公司

出　　处：《国外电子测量技术》2011年第11期7-10,共4页Foreign Electronic Measurement Technology

摘　　要：3环路类型和阶数 前面已经谈到，锁相环使用类型（Ⅰ型，TypeⅠ；或Ⅱ型，TypeⅡ）和阶数（一阶或二阶）来分类。大多数时钟恢复模型是基于SOTⅡ锁相环，或设计为接近二阶的锁相环。

关 键 词：串行设计 时钟恢复 测量 测试 锁相环 恢复模型 阶数 类型 

分 类 号：TN929.11[电子电信—通信与信息系统]