TD-LTE接入层安全性设计与实现  

Security design and its realization of access stratum for TD-LTE

作　　者：陈发堂[1] 李静[1] 韩宁[2] 

机构地区：[1]重庆邮电大学通信与信息工程学院,重庆400065 [2]成都电子科技大学通信学院,四川成都610054

出　　处：《电子技术应用》2012年第4期137-140,共4页Application of Electronic Technique

基　　金：国家科技重大专项资助项目(2009ZX03002009)

摘　　要：在研发时分-长期演进(TD-LTE)无线终端综合测试仪时,一致性测试有着非常重要的作用。基于此,选用规范描述语言(SDL)与树表描述语言TTCN(Tree Tabular Combine Notation)对接入层安全性的设计进行了仿真测试,提出了一种基于SDL+TTCN的测试方法。最后采用ARM Work-bench IDE编译软件在ARM1176JZF-S芯片上对测试后的效果进行了验证。It is very important that the protocol conformance testing in protocol implementation. As the TD-LTE wireless terminal tester must be designed in accordance with the protocol specifications, so this paper selects the SDL and TTCN to testing the security of the AS, and proposes a testing way that based on SDL and TTCN. At last, this paper checks the truth of the testing result on the chip of the ARM1176JZF-S in the ARM Workbench IDE compiling software.

关 键 词：一致性测试 接入层安全性 规范描述语言 树表描述语言 

分 类 号：TN929[电子电信—通信与信息系统]