检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]华中光电技术研究所-武汉光电国家实验室,湖北武汉430073
出 处:《光学与光电技术》2012年第2期72-75,共4页Optics & Optoelectronic Technology
摘 要:针对测量设备和载体平台需要进行动态基准传递的问题,介绍了利用高速CCD进行成像的变形检测方法,将载体的变形转换为分划板图像上的平移和旋转大小,进行三维的姿态解算。仿真结果和实际成像检测试验表明,在载体角度变形≤±10′的条件下,其横摇、纵倾方向检测精度可达2.8″,偏航方向检测精度可在1′以内。A method to measure carrier deformation via high speed CCD imaging for dynamic base alignment between observation equipment and carrier platform is proposed.The three-dimensional attitude is inferred through transforming the carrier deformation to translation and rotation of the reticle image.Experiments show that the roll and pitch angle measuring error is only 2.8″,the heading angle measuring error is less than 1′ when the carrier deformation angle is less than±10′.
分 类 号:TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.145