基于霍特林变换与CUDA架构的缺陷标记方法  

Mark Defects Based on Hotelling Transform and CUDA Architecture

作　　者：王成顺[1] 卢荣胜[1] 李琪[1] 付琰[1] 

机构地区：[1]合肥工业大学仪器科学与光电工程学院,合肥230009

出　　处：《科学技术与工程》2012年第11期2556-2560,共5页Science Technology and Engineering

基　　金：国家科技支撑计划项目(2011BAK15B07);国家自然科学基金(50875074)资助

摘　　要：在表面缺陷自动光学检测图像处理中,需要对每个缺陷进行标记,便于后续判别缺陷的类型、大小、位置、方向等Blob特性。研究了应用Hotelling变换(霍特林变换)求出缺陷的主轴方向和最小外接矩形,沿着主轴方向将缺陷标记出来的算法,并给出了应用NVIDIA的CUDA架构对标记算法进行加速实现的方法。研究结果表明,根据图像缺陷大小的不同,可以取得5～10倍的加速实现存记。Automatic optical detection of surface defects in image processing,in order to judge the defect＇s Blob features,such as type,size,location and direction,need to mark the every defect.Used the Hotelling transform to find the principal axis and minimum enclosing rectangle of the defect.Along the principal axis,the defect is marked in minimum enclosing rectangle.The transform algorithm based on NVIDIA＇s CUDA architecture is accelerated.According the size of the defects,the algorithm is accelerated to（5~10） times the speed.

关 键 词：缺陷标记 霍特林变换 最小外接矩形 CUDA架构 

分 类 号：TH741.3[机械工程—光学工程]