一种漫透射成像法激光强度时空分布测量装置  

作　　者：庞淼 

出　　处：《中国工程物理研究院科技年报》2011年第1期151-152,共2页Annual Report of China Academy of Engineering Physics

摘　　要：激光强度分布测量是激光参数诊断的重要内容，目前主要使用阵列探测器法和CCD成像法，CCD成像法由于具有高分辨率和高占空比的突出优势而得到广泛应用，其中以漫反射成像法为主，漫透射成像法未见相关报道。漫反射法需要现场搭建设备、现场定标，而且对散射屏表面要求很高，因而使用起来非常不便。因此，我们设计了采用漫透射CCD成像法的装置，以实现对激光强度分布和功率的同时准确测量，测量分辨率达到5mm，占空比80％，功率测量不确定度小于8％。

关 键 词：CCD成像法 测量装置 激光强度 时空分布 透射 测量不确定度 高占空比 阵列探测器 

分 类 号：O53[理学—等离子体物理]