检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:蔡丽枝[1,2] 原遵东[1] 董伟[1] 李星[1,3]
机构地区:[1]中国计量科学研究院,北京100013 [2]福建省计量科学研究院,福州350003 [3]华北电力大学,北京102206
出 处:《计量技术》2012年第4期18-21,共4页Measurement Technique
摘 要:样品表面温度的准确测量是发射率测量的关键技术之一。接触测温法的测点与样品表面之间的热流是影响测温水平的关键因素。本文介绍了在材料光谱发射率测量中对样品的热风加热方式的初步研究。对热风加热方式进行温场测试,对吹方案比单向气流具有明显改善的均匀性。采用该加热方式分别对导热系数较高和较低的材料进行尝试性光谱发射率测量。新方法具有升降温迅速、不受样品形状限制的特点,在测量低导热系数材料样品时具有突出优势和改进潜力。
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