离子收集法测量α粒子技术在α表面污染测量中的应用初探  

The Basic Discussion of the Application of Ion Collection Method Measuring α Particles in the α Surface Contamination Measurernent

作　　者：刘建忠[1] 王希涛[1] 胡波[1] 刘惠英[1] 韩景泉[1] 

机构地区：[1]中国辐射防护研究院,太原030006

出　　处：《核电子学与探测技术》2012年第2期210-212,共3页Nuclear Electronics & Detection Technology

摘　　要：介绍了离子收集法测量α粒子的原理,初步探讨了这种技术将来在α表面污染测量工作中的应用前景。It mainly deals with the theory of particle measurement in a method of ion collection and probes the prospect of its application in alpha surface contamination measurement.

关 键 词：Α粒子 离子收集 表面污染 

分 类 号：TL7[核科学技术—辐射防护及环境保护]