原子力显微镜在法庭科学中的应用及展望  

Application and prospect of atomic force microscopy in forensic science

作　　者：张颖[1] 

机构地区：[1]辽宁警官高等专科学校刑事技术系,辽宁大连116036

出　　处：《刑事技术》2012年第2期39-43,共5页Forensic Science and Technology

摘　　要：原子力显微镜是一种具有纳米级分辨率,可观察物体表面形貌和表面结构的新型显微镜。本文对原子力显微镜的工作原理、工作模式、优点,以及原子力显微镜在法庭科学中应用进行了综述。As a new microscopy,atomic force microscopy has nanoscale resolution and can observe the superficial appearances and structures of the objects.This paper reviews the working operations,working modes,advantages and the applications of the atomic microscopy in forensic science.

关 键 词：原子力显微镜 法庭科学 纳米级分辨率 

分 类 号：D919.2[医药卫生—法医学]