基于ARM7数字集成电路测试仪的设计  

作　　者：戴家友 

机构地区：[1]广东惠州市惠城职业技术学校,广东惠州516003

出　　处：《数字技术与应用》2012年第4期134-134,136,共2页Digital Technology & Application

摘　　要：本设计采用ARM7系列LPC2103作为主控芯片,能够对74系列和CMOS40系列等芯片快速检测,并可以将被检测芯片的信息和检测结果在LCD液晶显示屏幕上显示出来,该测试仪支持存储信息升级以适应新的集成电路检测的要求。

关 键 词：测试仪 LPC2103 检测 集成电路 

分 类 号：TN431[电子电信—微电子学与固体电子学]