日本理学3063PXRF维修后的检定工作  

作　　者：常建平[1] 李银祥[1] 姚向东[1] 

机构地区：[1]武汉工业大学

出　　处：《国外建材科技》2000年第1期62-64,共3页Science and Technology of Overseas Building Materials

摘　　要：本文在修复日本理学3063PX射线荧光光谱仪时,用国产零配件替代原件,并断开DLI线路,对其修复后的仪器进行了精密度、检出限等检定,其结果比较满意。

关 键 词：X射线荧光光谱仪 维修 检定 

分 类 号：TH744[机械工程—光学工程]