基于“Bennia-Riad”准则频域反卷积  

Frequency-Domain Decon volution Based on "Bennia-Riad" Criterion

作　　者：贺云辉[1] 刘明亮[1] 

机构地区：[1]北京工业大学

出　　处：《电子测量技术》2000年第1期19-21,共3页Electronic Measurement Technology

摘　　要：文中首先简介了“Bennia-Riad”准则和扩展的“Bennia-Riad”准则;其次介绍了基于扩展的“Bennia-Riad”准则的高通系统的反卷积问题;最后介绍了基于“Bennia-Riad”In this paper, at first, we briefly introduce 'Bennia-Riad' criterion and extended 'Bennia-Riad' criterion. Next, we present the deconvolution of a high-pass system based on extended'Bennia-Riad'criterion. Finally, we present the deconvolution of a band-pass system based on 'Bennia -Riad' criterion.

关 键 词：准则 滤波 带通系统 反卷积 时域测量 频域 

分 类 号：TN713[电子电信—电路与系统]