SOC测试系统将成为主流IC测试设备  

作　　者：崔德勋 

出　　处：《电子产品世界》2000年第3期45-46,共2页Electronic Engineering & Product World

关 键 词：系统级芯片 SOC 测试系统 集成电路 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学] F416.63[经济管理—产业经济]