检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]湖南大学计算机与通信学院,长沙410082 [2]长沙理工大学计算机与通信学院,长沙410076
出 处:《小型微型计算机系统》2012年第6期1363-1366,共4页Journal of Chinese Computer Systems
基 金:国家自然科学基金项目(60773207;60673085)资助;中科院计算机体系结构国家重点实验室资助
摘 要:随着集成电路工艺尺寸不断缩小,电路规模不断增大,要得到很高的小时延故障覆盖率所需的测试向量越来越多,致使小时延故障模拟成本越来越高.为了降低模拟成本,提出一个高效的小时延故障模拟器.模拟方法中引入新的波形表达方式,按电路结构的拓扑顺序进行分级模拟,最后可得到每个故障的检测区间,并且应用时延故障概率分布来计算故障覆盖率.实验结果表明,此方法能大幅降低模拟时间和内存消耗.It needs much more test patterns to get high small delay fault coverage for the shrinking circuit process technologies and in- creasing scale of ICs, so that the simulation cost of small delay faults becomes more and more higher. A new efficient small delay fault simulator is presented for reducing testing cost. For this method, a new waveform expression method is introduced, the circuit is simulated hierarchically in topological order and detection interval of every fault can be obtained, delay defect distribution is used to calculate the coverage. Experiments results show that this approach can decrease both simulation time and memory consumption sharply.
分 类 号:TP331[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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