有机薄膜发光二极管失效过程的动态观察和分析  

Dynamic Observation and Analysis of the Degradation Process in Organic Light emitting Diodes

作　　者：李传南[1] 谢志元 黄劲松[1] 肖步文 赵毅[1] 侯晶莹[1] 刘式墉[1] 

机构地区：[1]吉林大学电子工程系

出　　处：《光电子．激光》2000年第2期129-132,共4页Journal of Optoelectronics·Laser

基　　金：国家"八六三"高技术资助项目![863 -3 0 7-0 5 -0 5 ( 0 2 ) ];国家自然科学基金资助项目!( 6963 70 10 )

摘　　要：本文报道了利用带有 CCD摄像机的显微镜对由常用有机材料 TPD和 Alq3制备的有机薄膜发光二极管 (OL ED) ITO/TPD/Alq3/Al及 ITO/TPD/Alq3:Rub/Alq3/Al失效过程的动态观察 ,对于造成器件失效的主要原因——黑斑的产生和变化进行了描述和分析。观察同时表明掺杂器件 ITO/TPD/Alq3:Rub/Alq3/Al的失效较之双层器件 ITO/TPD/Alq3/Al要缓慢 ,前者的稳定性要比后者好。We reported the dynamic observation about the degradation process of operating organic light emitting diodes ITO/TPD/Alq 3/Al and ITO/TPD/Alq 3:Rub/Al under ambient conditions,which is fabricated of two type staple organic materials TPD and Alq 3.OLEDs are studied via one microscopy with a CCD camera.We described the formation and growth of black spots in OLEDs,and showed that dye doped device ITO/TPD/Alq 3:Rub/Alq 3/Al is more reliable than bilayer organic device ITO/TPD/Alq 3/Al.

关 键 词：发光二极管 失效过程 有机薄膜 

分 类 号：TN364.2[电子电信—物理电子学]