材料分析中合理使用各种试验研究方法(续)  

Reasonable Using Various Kinds of Test Research Methods in Material Analysis (Continued)

作　　者：杨传铮[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海微系统与信息技术研究所,上海200050

出　　处：《理化检验（物理分册）》2012年第5期345-349,共5页Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)

摘　　要：3．2．2Auger电子能谱及应用 3．2．2．1Auger电子能谱 当高能电子束或X射线激发样品时，原子内壳层上电子因电离而留下一个空位，由较外层电子向这一能级跃迁使原子释放能量的过程，发射特征X射线；另一种弛豫过程是：A壳层电子电离产生空位，B壳层电子向A壳层的空位跃迁，导致C壳层的电子发射，这就ABC Auger电子发射。

关 键 词：Auger电子能谱 合理使用 材料分析 试验 电子发射 能级跃迁 X射线激发 高能电子束 

分 类 号：N34[自然科学总论] TB302[一般工业技术—材料科学与工程]