磁盘存储测试技术研究  

Disk Storage Testing Technology

作　　者：贺秦禄[1] 李战怀[1] 王乐晓[1] 段升强[2] 王惠峰[1] 孙鉴[1] 

机构地区：[1]西北工业大学计算机学院,西安710129 [2]西安建筑科技大学信息网络中心,西安710055

出　　处：《计算机科学》2012年第6期1-5,共5页Computer Science

基　　金：国家"863"计划基金资助重大项目(2009AA01A404);国家自然科学基金(60970070)资助

摘　　要：研究了测试海量存储系统中磁盘阵列IOPS、数据传输率两项性能指标的技术与方法,提出了针对高性能磁盘阵列的并行测试技术,并使用此方法实现了对最新研制的高性能磁盘阵列的评测。通过研究影响单个磁盘性能指标的各项因素,并借助实验对其进行量化分析,最终实现了对整个磁盘阵列的性能评测。研究了影响磁盘阵列整体性能的关键瓶颈点,并给出了各项测试结果的合理性证明。We studied technologies about testing IOPS and data transfer speed of disk arrays in mass storage systems,and proposed a parallel testing technology towards the high performance disk array and realized the testing work on the newest developed disk array.By taking researches on many factors which effect disk performance seriously and quantifying them through experiments,we realized evaluations on the whole disk array.Finally,we studied bottlenecks of the disk arrays and proved that the results are correct.

关 键 词：海量存储 磁盘阵列 性能测试 

分 类 号：TP393[自动化与计算机技术—计算机应用技术]