GTR和IGBT动态特性测试的研究  

Research on GTR and IGBT dynamic characteristic test

作　　者：彭端[1] 彭珞丽[1] 

机构地区：[1]广东工业大学电子信息工程系,广州510643

出　　处：《武汉水利电力大学学报》2000年第2期100-103,共4页Engineering Journal of Wuhan University

基　　金：广东省重点科技攻关项目 !(94330 1 - 2 0 56)

摘　　要：研究一种采用通用示波器测试GTR和IGBT动态特性的简易装置 ,介绍由intel80 98单片机硬软件技术构成PWM信号脉冲源 ,给出了进口GTR模块 2DI50D - 1 0 0 (50A/ 1 2 0 0V)和IGBT模块 2MBI50L - 1 2 0 (50A/ 1 2 0 0V)A simple instrument for measuring GTR and IGBT dynamic characteristics with general oscilloscope is developed. The authors describe the PWM pulse signal source composed of intel8098 hardware and software techniques. The testing results of GTR modules 2DI50D-100 (50A/1200V) and IGBT modules 2MBI50L-120(50A/1200V) are given.

关 键 词：动态特性 测试 晶体管 GTR模块 IGBT模块 

分 类 号：TN320.7[电子电信—物理电子学]