弯曲不敏感光纤1310nm处模场直径测试方法研究  

作　　者：杨世信 李琳莹[2] 俞根娥[2] 时彬[2] 甘露[2] 宋志佗[2] 康玉成 朱博 张嘉一 苗俊杰 冀忠宝 肖斌 

机构地区：[1]康宁通信(大中华区) [2]信息产业部有线通信产品质量监督检验中心 [3]康宁(上海)光纤有限公司 [4]成都康宁光缆有限公司

出　　处：《现代传输》2012年第3期65-68,共4页Modern Transmission

摘　　要：G.657.A2是一种优化了抗弯性能的全谱单模光纤,和传统的G.657.A1弯曲改善型单模光纤相比,它大幅提升了光纤的抗弯表现。由于这种光纤的性能满足ITU-T G.657.A2标准,同时完全符合ITU-T G.652.D标准,与已经广泛铺设的G.652标准单模光纤能无缝兼容,目前在国内FTTH的建设中得到广泛的应用。但在测试弯曲损耗不敏感G.657.A2光纤1310nm处模场直径时,特别是测宏弯性能优异的G.657.A2光纤时,如果仍然采用针对传统标准G 652光纤测试条件:即在2m试样光纤上绕一半径为30mm圈作为高阶模的滤模器,并不总能有效滤除高阶模,当高阶模未完全滤除时,会出现测试光纤的模场直径比其真实的模场直径偏小的现象。本文通过试验的方法研究分析了高阶模对模场直径的影响和可能的消除办法,多个试验结果表明:图1b和图1c所示两种测试方法完全能够满足国家标准、国际标准的测试要求,且两种方法测试模场直径的均值无显著差异(p<0.05)。由于G.657.A2光纤标准要求λ_(cc)≤1260nm,可以保证22m光纤或光缆试样的"对应截止波长"≤1260nm,故用图1c条件可测得正确的1310nm处MFD值。

关 键 词：弯曲不敏感单模光纤 模场直径 滤模器 测试 

分 类 号：TN253[电子电信—物理电子学]