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作 者:洪丽娜[1,2] 何洪涛[2] 郝晓军[1,2] 周波[2]
机构地区:[1]电子信息系统复杂电磁环境效应重点实验室 [2]中国人民解放军63892部队
出 处:《信息与电子工程》2012年第3期295-299,共5页information and electronic engineering
摘 要:为了有效预测微波暗室的静区性能,使用FEKO软件进行任意入射角度条件下角锥吸波材料的前向反射率仿真,并以某矩形暗室结构为例,利用吸波材料反射率仿真结果,采用射线追踪法计算了发射天线位于天线阵面上典型位置时暗室静区内反射电平的分布情况。经比较,仿真结果与实际测量结果一致性较好,该方法为微波暗室性能预测提供了有效手段。The reflection parameters of absorbers used in the anechoic chamber were simulated in FEKO software under any angle in order to forecast the property of the anechoic chamber effectively, and to map out rational structure design. Using the simulation result of the reflection parameter and ray tracing method, the reflection level of the quiet zone in a rectangle anechoic chamber was calculated while the transmitting antenna was placed on typical position. The simulation result was in good accordance with the test result. This study has provided a useful method for predicting the quiet zone performance of microwave anechoic chamber.
关 键 词:暗室 吸波材料 反射率 反射电平 静区 性能 仿真预测
分 类 号:TN015[电子电信—物理电子学]
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