检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]工业和信息化部电子第五研究所,广州510610
出 处:《环境技术》2012年第3期5-10,共6页Environmental Technology
摘 要:本文论述了电子产品高加速应力筛选试验的流程和方法,包括高加速应力筛选试验剖面设计和筛选验证等,并将该试验方法在某机载惯导产品进行了应用。这一方法对于其他机载电子产品的高加速筛选工作有一定的指导意义。The paper discussed the procedure and method of electronic products highly accelerated stress screening test, including profile design and screen validation and so on, while also applied this method to certain airborne inertial navigation product. This technology serves as a'direction for highly accelerated stress screening of other Aircraft electronic products.
关 键 词:电子产品 高加速应力筛选 故障注入 筛选效率 寿命损失
分 类 号:TJ06[兵器科学与技术—兵器发射理论与技术]
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