原子力显微镜用于微尺度材料力学性能表征的研究进展  

Research Progress on Applications of Atomic Force Microscopy in Micro-and Nano-mechanics

作　　者：丁燕怀[1,2] 蒋旭[1] 任虎鸣[1,2] 尹久仁[1,2] 姜勇[1,2] 邓旭辉[1,2] 张平[1,2] 

机构地区：[1]湘潭大学土木工程与力学学院,湘潭411105 [2]湘潭大学流变学研究所,湘潭411105

出　　处：《材料导报》2012年第13期118-124,共7页Materials Reports

基　　金：国家自然科学基金(51002128)

摘　　要：原子力显微镜(AFM)是纳米科学研究的有力工具。从AFM的原理出发,分析了探针与样品之间作用力的计算过程,介绍了确定悬臂弹性常数的几种方法,并综述了AFM在生物材料、薄膜材料、纳米结构、单分子操作和纳米力学实验中的研究进展。Atomic force microscopy （AFM） is a powerful tool for nanoscience research. Based on the principle of AFM, calculation process of the force between probe and sample is analysed, some methods for determining the spring constant of cantilevers are introduced. Further more, a review on recent developments of application of AFM is given for nanoscale materials, biomechanics and electronic device.

关 键 词：原子力显微镜 微尺度材料 力学性能 探针 悬臂弹性常数 

分 类 号：TB301[一般工业技术—材料科学与工程]