辐射效应对SRAM型FPGA可靠性的影响分析  

作　　者：朱辉[1] 胡冰[1] 吕倩[1] 刘鸿瑾[2] 

机构地区：[1]中国航天标准化与产品保证研究院,北京100071 [2]北京控制工程研究所,北京100190

出　　处：《质量与可靠性》2012年第1期4-6,共3页Quality and Reliability

摘　　要：分析了空间辐射环境对SRAM型FPGA可靠性的影响,总结归纳了空间应用SRAM型FPGA的故障模式,供FPGA产品设计人员参考。

关 键 词：FPGA 空间辐射 故障模式 可靠性 

分 类 号：TN791[电子电信—电路与系统]