基于MSP430的电路测试系统  

The Circuit Test System Based on MSP430

作　　者：杨虹[1] 周明[1] 陈立昱[1] 向高林[1] 

机构地区：[1]重庆邮电大学光电工程学院,重庆400065

出　　处：《电子质量》2012年第7期29-31,34,共4页Electronics Quality

基　　金：重庆市教委科学技术研究项目(KJ100512);重庆市自然科学基金项目(CSTC;2010DD2412);重庆市高校大学生创新创业训练计划项目(201210617010);重庆邮电大学大学生创新实验项目(46)

摘　　要：该文设计一种基于MSP430的电路测试系统。该系统集成硬件实验平台和电路参数测量平台于一体,克服传统电路实验平台的实现功能单一性与参数测量过程的繁琐性。系统具有便携、低功耗、易操作、经济等特点。This paper designs the circuit test system based the MSP430 chip.The system integrates the hardware experimental platform and the circuit parameters measurement platform,and it overcomes the singularity function and the cumbersome nature of the parameters measurement process in the traditional circuit experimental latform.lt also has the characteristics of portable,low power consumption,easy operation,economic and so on.

关 键 词：MSP430 硬件实验平台 参数测量 低功耗 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]