提高微波元器件反射参量测量准确度的常用方法分析  

作　　者：毕文辉[1] 

机构地区：[1]中国人民解放军92493部队89分队,辽宁葫芦岛125000

出　　处：《计量技术》2012年第7期24-26,共3页Measurement Technique

摘　　要：反射参量是描述微波电路匹配情况的一个重要参数，它有明确的物理意义，可直接测量，是微波元器件最常需测试的技术指标。本文介绍了利用反射计测量反射参量过程中，通过采用信号源的稳幅、信号源的隔离或去耦和解决测量电路（硬件）非理想等来提高反射参量测量准确度的三种方法，并分析了三种方法的工作原理。

关 键 词：反射参量 测量 准确度 

分 类 号：TB9[一般工业技术—计量学]