光器件的回损测量  

作　　者：孙景群[1] 

机构地区：[1]JD SU公司

出　　处：《电信技术》2012年第7期95-97,共3页Telecommunications Technology

摘　　要：1 概述 自光纤通信系统出现就有了光纤无源器件的回损测试方案，早期的典型测试仪表包括JDSU公司的RXMeter、Agilent公司的816xx系列等。

关 键 词：回损 光器件 Agilent公司 测量 光纤无源器件 光纤通信系统 测试方案 测试仪表 

分 类 号：TN929.11[电子电信—通信与信息系统]