JJF1306-2011《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》解读  

作　　者：朱小平[1] 

机构地区：[1]中国计量科学研究院

出　　处：《中国计量》2012年第8期128-129,共2页China Metrology

摘　　要：一、制定背景2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应国际贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。

关 键 词：镀层厚度 X射线荧光 校准规范 测厚仪 量值传递体系 解读 质量体系认证 外资企业 

分 类 号：TH821.1-65[机械工程—仪器科学与技术]