基于劳埃德镜的微薄物体厚度测量  

作　　者：王情伟[1] 王静[1] 

机构地区：[1]华南师范大学物理与电信工程学院,广东广州510006

出　　处：《硅谷》2012年第14期138-139,共2页

摘　　要：介绍一种利用劳埃德镜测量微薄物体厚度的新方法,该方法利用光的干涉原理,借助条纹间距的改变来测出物体的厚度。结果表明,该方法不仅操作简单,而且测量结果具有较高准确性,是一种可行的方法。

关 键 词：劳埃德镜 干涉 测量 

分 类 号：F3[经济管理—产业经济]