一种新的基于ARM的RFID测试系统设计研究  

Design of RFID Test System Based On ARM

作　　者：王秀敏[1] 高凌鸿[1] 

机构地区：[1]中国计量学院信息工程学院,杭州310018

出　　处：《计算机测量与控制》2012年第8期2045-2047,2051,共4页Computer Measurement &Control

基　　金：国家重点基础研究发展计划(973计划)课题(2006CB921403);2009年国家质检总局科技计划项目(2009QK027);2010年浙江省科技计划优先主题重点工业项目(2010C11024);2010年杭州经济技术开发区产学研合作项目(201002)

摘　　要：研究了基于ARM技术的射频识别测试技术;论文首先设计了同时支持ISO14443(TYPE A和TYPE B)和ISO15693两种协议13.56MHz RFID射频参数测试系统;给出了测试系统的组成以及软件设计具体流程,着重分析了硬件相关电路的设计与实现技术;文中通过对提出的测试系统进行测试分析结果表明,提出的测试系统能够很好地用于满足以上两类协议的射频IC卡的测试与分析,具有一定的实际应用价值。For the protocol of ISO14443 （TYPE A and TYPE B） and ISO15693, the RFID RF Parametric Test System working at 13. 56MHz was designed based on ARM technology. The system components, working principle, hardware designs and testing process is de- scribed. The design of hardware--related circuit and implementation is highlighted. Through the analysis of test results of the system, it in- dicates that the system can well meet the above two types of protocols.

关 键 词：S3C2440A MF RC632 射频识别 测试系统 

分 类 号：TP312[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]