基于紧致遗传算法的N次检测测试集压缩  

作　　者：宋波 

机构地区：[1]平度市开发区高级中学,山东平度266700

出　　处：《牡丹江师范学院学报（自然科学版）》2012年第3期6-7,共2页Journal of Mudanjiang Normal University：Natural Sciences Edition

摘　　要：N次检测是一种新兴的面向缺陷的集成电路生产测试技术,它通过对故障的多次测试来提高对电路缺陷的测试覆盖率.N次检测技术所面临的主要困难是其所需测试矢量数目过多,导致测试时间长,成本高.为此,提出一种基于紧致遗传算法的N次检测测试集压缩方法,可以有效降低计算花费,非常适合处理测试矢量规模较大的N次检测的测试集压缩问题.实验表明,该方法能够在有效的时间内得到更小的测试集.

关 键 词：N次检测 测试集压缩 紧致遗传算法 

分 类 号：O453[理学—无线电物理]