检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:钱超[1]
机构地区:[1]中北大学信息与通信工程学院
出 处:《世界电子元器件》2012年第9期61-65,共5页Global Electronics China
摘 要:20世纪80年代初期,随着微电子技术的发展,国外报道了利用存储器芯片作为信息载体的数字存储测试仪。20世纪90年代,传感器与微型电子记录仪组为一体的存储测试产品在国际上出现。存储测试技术是从七十年代开始的一种新的弹上参数的测试方法,它是在不影响被测对象或影响在允许范围的条件下,在被测体内置入微型数据采集与存储测试仪,现场实时完成信息的快速采集与记忆,事后回收记录仪,由计算机处理和再现测试信息的一种动态测试技术。
关 键 词:测压系统 电子记录仪 仿真 设计 信号 数字存储 信息载体 存储测试技术
分 类 号:TP391.9[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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