基于XRD的晶体温度计的设计及其应用  

Design and application of X-ray diffraction crystal thermometer

作　　者：鲁浩楠[1] 吴瀚波[1] 王小琼[1] 李敏[1] 陆显扬[1] 张增明[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学物理学院,安徽合肥230026

出　　处：《物理实验》2012年第9期8-11,共4页Physics Experimentation

基　　金：国家自然科学基金理科物理学基地(2011);中国科学技术大学教学项目(2011)

摘　　要：在XRD衍射仪上搭建控温测温装置,扫描不同温度下的晶体衍射图谱,得到晶面间距随温度的变化关系,设计了基于XRD的晶体温度计.使用该温度计获得了VO2的相变温度.The X-ray diffraction （XRD） spectra of crystal at different temperatures were obtained with a variable-temperature stage. A special thermometer, called crystal thermometer, was designed based on the relation between interplanar spacing and temperature and then used to measure the phase transition temperature of VO2 successfully.

关 键 词：晶体温度计 X射线衍射 晶格常量 

分 类 号：TH811.9[机械工程—仪器科学与技术]