提高HT-7放电平顶阶段等离子体密度对逃逸电子的影响  

Reducing of runaway electrons by increasing plasma density on HT-7 tokamak

作　　者：竹锦霞[1] 段卓琦[2] 朱俊[2] 方达[2] 陈忠勇[2] 

机构地区：[1]四川文理学院物理与工程技术系,达州635000 [2]云南师范大学物理与电子信息学院.昆明650092

出　　处：《核聚变与等离子体物理》2012年第3期213-217,共5页Nuclear Fusion and Plasma Physics

基　　金：ITER国内配套研究专项(2009GB104003);教育部科学技术研究重点项目(208129);国家自然科学研究基金(11005090);云南省教育厅科学研究基金项目(09J0025)

摘　　要：利用硬X射线探测系统监测HT-7托卡马克装置中逃逸电子轰击到装置第一壁材料时所产生的高能硬X射线,研究了在放电平顶阶段提高等离子体密度对逃逸电子行为的影响。实验结果表明,通过提高放电平顶阶段等离子体密度,HXR强度迅速降到很低的水平,这意味着能有效减少这个阶段形成的逃逸电子的数目及能量。Using the hard X-ray （HXR） detection system during the current flat-top phase of ohmic discharge in the HT-7 tokamak, the behaviour of runaway electrons has been studied by means of measuring the HXR produced by the runaway electrons bombarding the first wall material. During plasma density increasing at the phase, we found that HXR intensity is reduced rapidly to a very low level, which implicated that the amount and energy of runaway electrons might be reduced effectively by increasing plasma density at the current flat-top phase.

关 键 词：逃逸电子 等离子体密度 硬X射线 

分 类 号：TL612.11[核科学技术—核技术及应用]