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作 者:吴海滨[1] 张铁译[1] 周后伟[1] 王飞[1] 周英蔚[1]
机构地区:[1]安徽大学物理与材料科学学院,安徽合肥230039
出 处:《大气与环境光学学报》2012年第5期385-389,共5页Journal of Atmospheric and Environmental Optics
基 金:科技部创新基金项目(07C26213400516)资助
摘 要:非制冷红外焦平面阵列的工作波长一般为8~14μm。通过添加特定波长的滤波片,可使非制冷红外焦平面阵列获得该波长的辐出度,从而利用比色测温的方法完成对工业产品在工业中低温范围内的精确测量。介绍了非制冷红外焦平面阵列比色测温的基本原理,详细讨论了在8~14μm波长范围内选择最佳比色双波长组合的理论依据,用MATLAB仿真计算确定了工业中低温范围最佳双波长组合的选择原则。最后模拟(8.8μm,10.6μm)双波长组合的T-R(T)图像,模拟结果满足测温精度要求。The operating wavelength of the uncooled infrared focal plane arrays(uncooled IRFPA) is 8-14μm. The uncooled IRFPA can obtain a specific wavelength of radiant exitance by adding a specific wavelength filter. Then the colorimetric temperature measurement is used to complete the industrial low temperature measurement. The basic principles of colorimetric temperature measurement of uncooled IRFPA is introduced, the theoretical basis for using the double wavelength colorimetric measurement temperature principle in range of 8-14μm is discussed in detail, and the MATLAB simulation is used to determine the principle of the best double wavelength selection of the industrial low temperature measurement. Finally, the T - R(T) image of dual wavelength(8.8μm, 10.6 μm) is simulated, and the results can meet the requirements of the temperature measurement accuracy.
关 键 词:比色测温 非制冷红外焦平面阵列 窄带滤波片
分 类 号:TN216[电子电信—物理电子学]
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